Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測(cè)相機(jī)

產(chǎn)品型號(hào)：iKon-M SY
更新時(shí)間：2025-10-17
產(chǎn)品介紹：Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測(cè)相機(jī)，為小型實(shí)驗(yàn)室或同步輻射線站提供探測(cè)解決方案。這些探測(cè)器被廣泛運(yùn)用在不同研究領(lǐng)域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測(cè)的材料科學(xué)、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領(lǐng)域。
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Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測(cè)相機(jī)：Andor能夠提供一系列高靈敏、高動(dòng)態(tài)范圍和快速探測(cè)的CCD、sCMOS和EMCCD相機(jī)，為小型實(shí)驗(yàn)室或同步輻射線站提供探測(cè)解決方案。這些探測(cè)器被廣泛運(yùn)用在不同研究領(lǐng)域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測(cè)的材料科學(xué)、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領(lǐng)域。

Andor X-Ray、EUV、電子和中子探測(cè)相機(jī)特性：

TE冷卻至-100°C

95%的峰值QE高探測(cè)器靈敏度

標(biāo)準(zhǔn)配置為“獨(dú)立"鈹窗，厚度為200微米的鈹箔窗

13 x 13um像素大小動(dòng)態(tài)范圍和分辨率最佳平衡

超低噪聲讀出智能低噪聲電子設(shè)備提供最“安靜"的系統(tǒng)噪聲性能

產(chǎn)品規(guī)格	iKon-M SY
芯片類型	背照CCD
快門	全局快門
數(shù)據(jù)接口	USB 2.0
分辨率	1024 x 1024
彩色/黑白	黑白
幀率	4.4

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